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X射線光譜分析過程中如何選擇測試條件

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X射線光譜分析過程中如何選擇測試條件

發布日期:2020-03-13 作者: 點擊:

  選擇測試條件是光譜分析過程中復雜關鍵的部分。 適當的測試條件意味著能夠測量元素的PPM水平。為了達到佳的分析測試條件,須遵循兩個基本原則:X射線源須在被測元素的吸收峰上方有一個明顯的峰。  K線或L線的選擇取決于儀器的測量范圍。 通常,更常用K線測量。X射線源的峰越接近待測元素的吸收峰,測試的強度和靈敏度(數值/秒/ PPM)越高。理想情況下,輻射源應與要測量的元素的吸收峰一致,但這很難實現。另一個基本原理是在要測量的元素區域中小化X射線的背景噪聲。 

  但是,這兩個原則相互矛盾。 通常,X射線探傷在高背景噪音時會達到高靈敏度,而在低背景噪音時則靈敏度差。 此外,當靈敏度高時,也可以達到佳的理論檢測極限;而當背景噪聲低時,凈計數率提取,矩陣校正和長期穩定性分析則好。 因此,佳分析結果是在考慮儀器硬件的情況下,找到這兩個原理之間的佳平衡。  

X射線探傷

  X射線管發射的spectrum致輻射的光譜范圍從0到n千伏,其中n是射線管的工作電壓。  X射線管還會發射目標的特征光譜線,因此如何選擇目標是要看它是否能夠大程度地激發待測元素。 由于X射線的強度通常與目標元素的原子序數成正比,因此鎢靶通常具有高的強度。 目標可以是任何高熔點金屬,目標的選擇通常包括Sc,Ti,Cr,Fe,Co,Ni,Co,Y,Zr,Mo,Rh,Pd,Ag,W和Pt。 

  具有多個目標的X射線管已應用于光譜儀。 操作員可以為要測量的不同元素選擇不同的目標。 選擇原則是目標的特征線能量高于待測元素的吸收極限,并且至少是檢測器分辨率的半角寬度的2-3倍。如果沒有靶滿足上述要求,則可以選擇高原子序數以獲得大的X射線通量。

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關鍵詞:X射線光譜分析探傷

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