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無損檢測大厚度比試件的透照技術

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無損檢測大厚度比試件的透照技術

發布日期:2021-03-22 作者: 點擊:

無損檢測大厚度比試件的透照技術


射線透照常規工藝允許試件有一定的厚度差異,在射線底片上所能顯示的厚度范圍,就稱為RT厚度容度。但若試件厚度差過大,就會透照質量失效,要解決此問題,必須采用一些特殊工藝或技術措施。


試件厚度差異的大小可用試件厚度比來衡量,試件厚度比可定義為一次透照范圍內試件的Z大厚度與Z小厚度之比,用Ks表示。當Ks大于1.4時,可以認為屬于大厚度比試件。實際工作中的大厚度比試件包括余高較高的薄板對接焊縫試件、小口徑管試件、角焊縫試件,以及一些形狀較復雜的機械零件。


大厚度比對射線照相質量的不利影響主要表現在兩個方面:一是因試件厚度差較大導致底片黑度差較大,而底片黑度過低或過高都會影響射線照相靈敏度。二是因試件厚度變化導致散射比增大,產生邊蝕效應。


對大厚度比試件透照的特殊技術措施包括適當提高管電壓技術、雙膠片技術和補償技術。


【適當提高管電壓技術】


適當提高管電壓是透照大厚度比試件Z常采用的,也是Z簡便的方法。


隨著管電壓的提高,底片上不同部位的黑度差將減小,這樣,在規定的黑度范圍內,可以容許更大的試件厚度變化范圍,即提高管電壓可以獲得更大的透照厚度寬容度。此外,對厚度變化的試件透照,提高管電壓可以減小散射比,降低邊蝕效應。但是射線能量提高后,衰減系數μ減小,從未會導致對比度減小,這一點對射線照相靈敏度不利。因此,管電壓不能任意提高,究竟管電壓提高多少比較合適,這是確定具體透照工藝需要研究的問題。


【雙膠片技術】


對厚度差較大的工件,可以采用在一只暗盒里放兩張膠片同時透照的雙膠片技術。


暗盒里放置的兩張膠片一般應選用感光度不同的兩種膠片(異速雙片法),其中感光度較大的膠片適用于透照厚度較大部位的觀察評定。另一種是在暗盒中放置感光速度相同的兩張膠片(同速雙片),管片方法是對黑度較小部位,將雙片重疊觀察評定,對黑度較大部位,用單片觀察評定。


【補償技術】


補償技術時指用補償塊、補償粉、補償泥、補償液等填補工作澆薄部分,使透照厚度差減小的方法,焊縫照相可使用厚度補償塊,形狀不規則的小零件照相可使用流質吸收劑(醋酸鉛加硝酸鉛溶液),或金屬粉末(鐵粉或鉛粉)作為厚度補償物。

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關鍵詞:X射線探傷機

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